TES-96
無現貨,下單後原廠製作時間預計為14~20個工作天後出貨。 自動判別磁性金屬與非磁性金屬底材之測量。 測量磁性金屬上之非磁性披膜之厚度及非磁性金屬上之絕緣膜厚度。 膜厚度超出上下限之響聲及顯示警示功能。 統計計算顯示平均值、最大值、最小值及標準差功能。 測量厚度單位 μm/mils 選擇。 LCD顯示含背光。 自動關機功能。
膜厚計
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- 產品規格
- 產品應用
規格
測量方法 |
電磁式及渦電流式(自動底材判別功能) |
測量範圍 |
0~1500 μm 或 0~80.0 mils |
準確性 |
±1 μm: < 50 μm ±2.5%: 50 μm ~ < 1000 μm ±3%: 1000 μm < 1600 μm |
解析度 |
0.1 μm: < 100 μm 1 μm: ≧100 μm |
單筆資料記憶 |
99 點 |
群組資料記憶 |
10群組各100點 |
電源 |
1.5 V 鹼性電池 (尺寸AAA) x 2 |
電池壽命 |
約 30 小時 (背光未啟用下) |
操作溫度 |
0°C 至40°C (32°F 至 104°F) |
儲存溫度 |
-20°C 至50°C (-4°F 至122°F) |
尺寸及重量 |
114 (L) x 53 (W) x 31 (H) mm / 約 102 g |
附件 |
零點校正板 (鐵質及鋁質)、校正片 (約50, 100, 1000 μm)、鹼性電池、 |
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